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    • QuickPRO-CUBE非接觸式雙表面輪廓儀

      三維形貌儀通過集成一對單點,非接觸式,納米分辨率的彩色共聚焦傳感器與高速,納米編碼的X/Y/Z協調運動,QuickPRO-CUBE™捕獲同步的前,后和基準表面3D點云地形,用于托盤中的單鏡頭或微鏡頭的幾何表征。

      更新時間:2024-04-24
      型號:QuickPRO-CUBE
      廠商性質:代理商
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    • QuickPRO-RPS--旋轉剖面儀

      專為測量旋轉對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設計,如金剛石車削光學表面和模塑或拋光的非球面透鏡

      更新時間:2024-03-19
      型號:
      廠商性質:代理商
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    • QuickPRO-3D--表面輪廓儀

      適用于光學、工業和半導體市場的高速、中精度、經濟實惠的表面輪廓儀,納米分辨率彩色共聚焦傳感器(可配制點和線傳感器),為在線過程測量和控制而設計,結構緊湊,易于上下片和操作,可配制成獨立系統(X/Y/Z) 和附加升級至LAS (C/R/Z),多種樣品處理能力

      更新時間:2024-03-19
      型號:
      廠商性質:代理商
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    • QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀

      QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學相干斷層掃描 (SD-OCT) 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結合,可以在高達 66 kHz 的單次測量中捕獲透明薄膜樣品中每層的平面。QuickOCT-4D™ 穿透深度(高達 100μm)和軸向分辨率 (5nm) 針對半導體、生命科學和制藥行業的多層透明薄膜、平面基板和功能層的測量進行了優化。

      更新時間:2024-03-19
      型號:
      廠商性質:代理商
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