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    • FR-Scanner自動化高速薄膜厚度測量儀

      顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件:分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此,在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。

      更新時間:2024-03-19
      型號:FR-Scanner
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:6042
    • FR-Mic全自動帶顯微鏡多點測量

      FR-Mic 多層膜厚度測試儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案,可以將光斑縮小到幾個微米,進而分析微小區域或者粗糙表面薄膜特征。

      更新時間:2024-03-19
      型號:FR-Mic
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:4508
    • FR-uProbe-LC光學顯微鏡適配器

      FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應用,例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區域薄膜厚度、光學常數、反射率、透射率和吸光度

      更新時間:2024-04-08
      型號:FR-uProbe-LC
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:97
    • FR-Scanner-AIO-Mic-XY300

      FR-Scanner-AIO-Mic-XY300 是一款整合自動薄膜厚度測繪系統,用于全自動圖案化晶圓上的單層和多層涂層厚度測量。電動X-Y載物臺提供適用尺寸 300mm x 300mm毫米的行程,通過真空固定在載臺上時進行精確測量??梢罍y量厚度和波長范圍應用需求可在在 200-1700nm 光譜范圍內提供各種光學配置

      更新時間:2024-04-08
      型號:
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:165
    • FR-Mic:全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀

      硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案,要求的光斑尺寸小到幾個微米,如微圖案表面,粗糙表面及許多其他表面。

      更新時間:2024-03-19
      型號:
      廠商性質:代理商
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    • FR-pRo:Thetametrisis膜厚測量儀

      Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備,用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。

      更新時間:2024-03-19
      型號:
      廠商性質:代理商
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