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    • CI8化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置

      LODAS™ – CI8是列真株式會社推出的一款化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置。

      更新時間:2024-03-19
      型號:CI8
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:1084
    • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統

      UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統是表面缺陷檢測的蕞完善的國產化替代產品,系統包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數據:晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模塊;輪廓、量測和檢查模塊;

      更新時間:2024-03-19
      型號:
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:374
    • iFocus晶圓檢測系統

      iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設備,利用STI的2D/3D視覺檢測系統,采用雙2D Camera同時采集亮區和暗區照片分析特征缺陷;True 3D技術,可以精確量測Bumping高度,Bumping共面性等特征??蛇m用于EWLB/CMOS/MEMS/LED/LENS/GLASS WAFER/GAS WAFER/COG等產品外觀檢測。

      更新時間:2024-03-19
      型號:
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:492
    • LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置

      LODAS™ – LI系列是列真株式會社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。

      更新時間:2024-03-19
      型號:LODAS™ – LI系列
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:689
    • LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置

      LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

      更新時間:2024-03-19
      型號:LODAS™ – BI12
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:600
    • LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置

      LODAS™ – BI8是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。

      更新時間:2024-03-19
      型號:LODAS™ – BI8
      廠商性質:代理商
      瀏覽量:669
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